Kirjeldus
Röntgenfluorestsents tehnoloogia (XRF) on tihtipeale üks lihtsamini kasutatavaid ja täpsemaid mooduseid paljude materjalide keemilise koostise määramiseks. See on mitte destruktiivne, töökindel, ei vaja enamasti proovide ettevalmistust ja sobib tahkete, vedelate ning pulbriliste proovide mõõtmiseks. XRF on kasutatav määramaks elemente vahemikus naatriumist uraanini ja selle madalamad tuvastamispiirid ulatuvad alla ppm taseme. Samal ajal on XRF spektromeeter võimeline kerge vaevaga mõõtma kontsentratsioone kuni 100 %-ni.