Röntgenfotoelektronspektroskoopid
Kirjeldus
Röntgenfotoelektronspektroskoopia (XPS) on kvantitatiivne spektroskoopiline tehnika, mis mõõdab uuritava materjali pinna (1-10nm sügavuselt) elemendilist koostist, empiirilist keemilist valemit, keemilist olekut ja elektronide seisundit. XPS spekter saadakse uuritava aine kiiritamisel röntgenkiirgusega, mõõtes samaaegselt ainest lahkuvate elektronide kineetilist energiat ning loendades nende arvu. Silmapaistev sooritus, madalad ülalpidamiskulud, suurem kasutamise lihtsus ning kompaktne suurus teevad K-Alpha XPS süsteemist ideaalse seadme, eriti kui sellega töötab rohkem inimesi.
Tüübid
add-ons and accessoriesx-ray photoelectron spectrometers
