Aatomijõumikroskoop
Kirjeldus
Aatomjõumikroskoopia (AFM) on väga tõhus meetod objektide pinna uurimiseks nii aatom- kui ka submikroonsel tasemel. Aatomjõumikroskoop on skaneeriv mikroskoop, mille otsik mõõdab elektronide kihi ja otsiku vahelist Van der Waalsi jõudu, keemilise sideme jõudu või muud jõudu. Aatomjõumikroskoobi lahutusvõime võib ulatuda alla 1 nm. AFM on oluline uurimistehnika paljudes valdkondades, materjaliteadusest bioloogiani, semikonduktoritest salvestusseadmeteni ning optikast polümeerideni.
Tüübid
life science research microscopesmicroscopes for materials science
